台式膜厚仪

* 采用x射线的荧光原理方法，这是适合测量非铁性镀层在钢材或非铁性金属底材上的厚度，甚至镍层在钢材上的厚度也可以测量。
* 对在铁上镀锌层、电路板的铜箔及孔铜壁的厚度测理也十分理想。而且可以在同一时间分别测量两层镀层厚度。
* 用来测量钢板上镀锌层及油漆的厚度，或是在铝上油漆层的厚度，涂镀可两用，是一款非常不错的仪器。
* zui显著的功能是可以穿透绿油测下面的铜厚，这是其他品牌仪器无法做到的。
* 适合于使用在不需要全部测量数据存储，评估和输出，但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同的准直器以适应各种应用情况.

台式膜厚仪
是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。