博曼镀铜镍金膜厚仪* 技术指标型号：元素分析范围从铝（AL)到铀（U）。
* 一次可同时分析zui多24个元素或五层以上镀层。
* 元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。镀层厚度zui薄可达0.005um，一般在20um内（不同材料有所不同）。
* 小孔准直器（zui小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。
* 高精度移动平台（定位精度小于0.005mm）。
* 任意多个可选择的分析和识别模型。
* 尺寸：576 x 495x545 mm
* 重量：90 kg
* 标准配置开放式样品腔。
* 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
* 双激光定位装置。
* 铅玻璃屏蔽罩。
* Si-Pin探测器。
* 信号检测电子电路。
* 高低压电源。
* X光管。
* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。

博曼镀铜镍金膜厚仪
是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。