bowman镀金膜厚仪
技术指标：
★ 元素分析范围：从AL到U
★ 一次性可同时分析多层镀层
★ 分析厚度检测出限zui高达0.01um
★ 同时可分析多达5层以上镀层
★ 相互独立的基体效应校正模型，厚度分析方法
★ 多次测量重复性zui高可达0.01um
★ *工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）
★ 温度适应范围：15℃~30℃
★ 输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）

bowman镀金膜厚仪
是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。