bowman镀层X-RAY膜厚仪1.用*的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。
2.可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上。
3.拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
4.能够检测各种大小的样品，满足镀层厚度测量和材料分析。
5.新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度。
6.多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台。
7.满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等。
8.符合ISO3487和ASTM B568检测方法

bowman镀层X-RAY膜厚仪
是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。