台式x射线膜厚仪1.可测：单层,双层,多层,合金镀层,
2.测量范围:0.04-35um
3.测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
4.全自动台面：操作非常方便简单
5.可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。
6.可测元素范围：钛（Ti）– 铀（U）  原子序 22 –92 
7.准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
8.自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
9.电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机

台式x射线膜厚仪是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。