重庆高低温柜子P电子元器件高低温测试PL试验箱

零部件行业，我们宏展试验设备很多，我们为客户定制型设备也很多，我们的经验给了如今的宏展设备。

广泛用于电工、电子、航天、航空、仪器仪表等行业作、材料、零部件设备等的加速湿热试验，交变温度试验，以便对试品在给定的环境条件下的行为性能作出评价。

除了可仿真产品在一般气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验)..等，去检测产品本身的适应能力与特性是否改变，以及针对产品在(低温低湿、高温低湿、高温高湿降到低温低湿..等)环境下是否会发生龟裂、破损，另外在低湿环境中的空气静电量是一般环境的30倍以上，据统计，半导体破坏率：59%是由静电所引起的。

重庆高低温柜子P电子元器件高低温测试PL试验箱特点：

●人机对话式触摸屏输入系统，操作简单易学，功能强大，并可于LCD画面上了解程式设定之曲线及监测过程；

●可设定程式120组，1200段，循环次数可达999次，每段时间zui大设定99小时59分；

●具有RS232通信接口，可通过PC随意控制和监视，还可选配RS485接口，USB曲线记录和数据储存装置,使用便捷；

●具有9组PID参数调节，以达到稳定、精准之控制；

●具有程式修正、清除、预约、启动、停电、记忆、按键锁定等功能；

●具有多种报警功能，故障发生同时，可通过荧幕故障显示，消除故障；

●送风循环设计，温湿度分布均匀性佳；

●具有自动防霜装置的真空双重玻璃，可清晰观察试验箱内的试品；

●前置式自动进水装置，方便增加加湿水。

交变湿热箱，高低温试验箱，恒温恒湿试验箱是我司重点研发设备之一，现是国家，目前部分常规型号有现货，请大家务必早定，方便购买！

环境测试项目（Environmental test items）

PRE-CON, THB, HAST, PCT, TCT, TST, HTST, Solderability Test, Solder Heat Test

①PRE-CON:预处理测试（ Precondition Test ）

目的: 模拟IC在使用之前在一定湿度，温度条件下存储的耐久力，也就是IC从生产到使用之间存储的可靠性。

②THB: 加速式温湿度及偏压测试（Temperature Humidity Bias Test ）

目的: 评估IC产品在高温，高湿，偏压条件下对湿气的抵抗能力，加速其失效进程

测试条件: 85℃，85%RH, 1.1 VCC, Static bias

失效机制：电解腐蚀

参考标准:

JESD22-A101-D

EIAJED- 4701-D122

③高加速温湿度及偏压测试（HAST: Highly Accelerated Stress Test ）

目的: 评估IC产品在偏压下高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程

测试条件: 130℃， 85%RH, 1.1 VCC, Static bias，2.3 atm

失效机制：电离腐蚀，封装密封性

参考标准:

JESD22-A110

④PCT:高压蒸煮试验 Pressure Cook Test (Autoclave Test)

目的: 评估IC产品在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程

测试条件: 130℃， 85%RH, Static bias，15PSIG（2 atm）

失效机制：化学金属腐蚀，封装密封性

售后服务承诺:
用户的满意是我们服务的宗旨，完善的售后服务使您解除一切后顾之忧，我们坚信一个好的企业卖出去的不仅仅是一台好的产品，更重要的是良好的服务。