高低温冲击老化试验电子元器件高低温冲击测试老化试验箱

高低温冲击老化试验电子元器件高低温冲击测试老化试验箱

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-01-04 06:11:56
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广东宏展科技有限公司

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产品简介

电子元器件高低温冲击测试老化试验箱适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的助手,宏展设备是。

详细介绍

电子元器件高低温冲击测试老化试验箱

电子元器件行业里有宏展设备的太多了,我们的高低温冲击老化设备是产品,得到了电子元器件行业很多客户的认可,我们的服务也是快捷可靠的。

高低温冲击试验箱是重庆宏展重点发展设备之一,是产品,近期为销量也在做活动,选购。

设备主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在温度急剧变化的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求,在高温与低温瞬间变化条件下,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,测试后,通过检测,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。

电子元器件高低温冲击测试老化试验箱设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;
 
*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

型    号

 

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

标称内容积(升)

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

+60~+200℃

升温速率※1

+60→+200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

-78-0℃

降温速率※1

+20→-75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2℃

温度范围

TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;

TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;

TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

 

     

 

内部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)※4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

※2恢复条件:小于5分钟,室温为+25℃和循环水温为+25℃,塑封IC。(均布)

 

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