XQZ光学测角比较仪-上海星庆光学仪器有限公司手机版

详细介绍

用途和特点：
　　可广泛适用于光学及机械制造业中，计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量；导轨的直线度及平板的平面度校准测量；两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。
　　该系列仪器操作简便、直观，测量稳定可靠，借助辅助设备用途广泛。

技术参数：

型号 Model	示值 Graduation	分度范围 Scale Range	目镜放大倍率 Magnification	示值不确定度 Uncertainty	工作距离范围 working range	外形 Dimension(D×W×H)
XQ60-ZⅠ	1′	V60′,H40′	10×/15×	±6″	0～1.4m	200×250×400
XQ15-ZⅡ	15″	V50′,H38′	20×	±3″	0～1.4m	200×250×400

选配件：
　　CCD监控系统（适用ZI、ZII型）

产品简介

详细介绍