XQ15-GⅢ 实用型激光平面干涉仪
品牌
其他厂商性质
上海市所在地
上海星庆光学仪器有限公司
组合推荐相似产品
XQC-Ⅰ工业测量显微镜
XQ20-GⅠ 扩展型激光平面干涉仪
XQL系列光学零部件
XQC-Ⅱ工业测量显微镜
XQ-K150冷光源
XQA 系列适配镜
XQZ光学测角比较仪
XQT系列光学零部件
XQ15-GⅡ数字式激光平面干涉仪
XQ15-GⅠ激光平面干涉仪
XQ60-GI便携式激光平面干涉仪
选配件: 各种规格球面标准镜
用途和特点: 在保留XQ15-GⅠ激光平面干涉仪的用途及特点的状况下,更具实用性,可更广泛适用于大批量生产单位的生产车间。检验车间的平面度、微小楔角测量,更适合于大平板生产流水线快速筛选的应用。
技术参数:
标准平面(A面),工作直径D1=Φ146mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
第二标准平面(B面),工作直径D2=Φ140mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
准直系统-----------------工作直径Φ146mm,焦距 f = 400mm
光源规格-----------------激光ZN18(He-Ne)
干涉室尺寸----------------530×270×150mm
联系方式
请选择您要拨打的电话: