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扫描电子显微镜 (SEM) 不仅是开展科研工作所的工具,对于需要品控的制造工厂也是的。 在这些场景中,用户需要重复执行相同的观察操作,因此快速完成这些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“简单 SEM”功能,用户可将 SEM 观察所需的“手动重复操作交给它”,从而更高效、更轻松地完成 SEM 观察。
此系列有下面4种配置
BU(基本单元) | 基本类型, 高真空条件下观察 |
A(分析型) | 分析型,标配EDS能谱 |
LV(低真空型) | 低真空型,适用于高、低真空操作,配置BED |
LA(低真空分析型) | 低真空分析型,适用于高、低真空操作,配置BED和EDS |
SEM规格
分辨率 | 高真空模式:3.0nm(30kV),15.0nm(1.0kV);低真空模式:4.0nm(30kV、BED) |
放大倍数 | x5 至 x300,000 |
电子枪 | 钨灯丝,全自动电子枪调准 |
加速电压 | 0.3kV~ 30kV |
探针电流 | 1pA~1uA |
LV压力调节 | 10~650Pa |
物镜光阑 | 4档,带XY微调功能 |
自动功能 | 灯丝饱和点调整、电子枪合轴调整、电子束对中调整、聚焦/散光/亮度/衬度调整 |
样品尺寸 | 200mm直径 x 75mm高 |
样品台 | 大型全对中样品台 X: 125mm Y:100mm Z:80mm 倾斜:-10~90o 旋转:360o |
图像模式 | 二次电子像、REF像、成分像、形貌像、阴影像 |
图像尺寸 | 640 x 640、1280 x 960、 2560 x 1920、 5120 x 3840 |
照片辅助功能 | 蒙太奇、简单SEM、Zeromag、实时3D |
操作支持功能 | 菜单(标准菜单/自定义菜单),测量、样品交换导航、信号深度功能、3D测量* |
操作系统 | Win10 64位 |
显示器 | 23.8英寸触控面板 |
语言切换 | 日语、英语、中文(可在用户界面上操作) |
真空系统 | 全自动、TMP、RP |
主要可选项
1. 背散射电子探测器BED
2. 低真空混合二次电子探测器LHSED
3. 低真空二次电子检测器LVSED
4. 能谱仪EDS
5. 波谱仪WDS
6. 电子背散射衍射图样EBSD
7. 真空预抽室LLC
8. 样品台导航系统SNS
9. 大区域样品台导航系统SNSLS
10. 样品室相机CS
11. 操作面板OP2
12. LaB6电子枪
13. 3D分析软件SVM