R9plus扫描探针显微镜控制器产品特点
极低噪音与超高稳定性！
单箱集成所有输入、输出及控制模块 |
R9plus更低的噪声水平 |
极低噪声，超高速度和精度的数模转换接口 |  线性电源提供极低噪声密度 |
的谱图能力！
20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gap is due to proximity effect of superconductivity. |
Raw spectroscopy data taken on Pb single crystal. Graph shows 50 dI/dV curves acquired at 350 mK; Dark line shows average of individual curves. |
开放性与灵活性！
HDLTM软件界面
R9扫描探针显微镜控制平台采用了RHK的IHDLTM图像化硬件描述与编辑软件，通过简单的“拖放”操作，即可完成对硬件和实验的所有设置。同时IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB，为实验的设计提供了无限的可能。
特制的硬件系统
采用RHK特制的且优化设计的硬件模块，利用RHK UltraDAC技术以极低的噪音水平对所有的信号进行数字化运算和处理。硬件模块包括：PLLs, lock-ins, filters, amplifiers, phase shifters, counters等。
强大而优异的功能
> 将所有SPM的功能模式集中到一起，通过软件即可快捷的对硬件系统进行重新定义。
> 无需外界模块和设备可实现包括STM、dI/dV隧道谱、接触式&非接触式AFM、导电AFM、开尔文探针显微镜KFM、SNOM等功能。
> 兼容所有商业化的STM/AFM系统，并实现对他们的全面控制。
功能强大，性能可靠！
> 支持所有的扫描探针显微镜操作模式，包括：STM、dI/dV谱、接触式和导电式AFM、非接触式AFM、开尔文探针KFM等。不需要添加任何外置设备；
> 支持音叉式和微悬臂式AFM；
> 支持所有非接触式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。
接触式AFM模式 - Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。
采用全数字式Phase Shifter，保证了系统的稳定性；
> PLL和Multiple Lock-in通道一起使用，可以同时采集多个谐频信号；
> SNOM：多个高速输入通道可以同时对表面成像，并采集光学信号（模拟或脉冲计数）；
> KFM：无需添加任何外置的设备，即可完成KFM实验；
> 全面兼容LabVIEW和MATLAB等语言与程序。