详细介绍：

ICT-33C集成电路测试仪 主要特点

可测1300种器件.

可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,

器件代换查询,内部RAM数据修改,

EPROM、EEPROM器件读出写入.

ICT-33C集成电路测试仪主要功能

器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。

器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。

器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。

器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。

内部RAM数据修改：ICT?/FONT> 33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。

EPROM、EEPROM器件读入：ICT?/FONT> 33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。

EPROM、EEPROM器件写入：ICT?/FONT> 33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。

可 测 器 件（1300多种）

CMOS40系列：103种。

CMOSMC140系列：103种。

CMOS45系列：60种。

CMOSMC145系列：60种。

光耦合器系列：133种。

TTL74/54系列：714种。

TTL75/55系列：82种。

数码管系列：

0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。

常用RAM系列：

6 60256 628128

EEPROM系列：

2816 28256 28040 29101

EPROM系列：

2716 27128 27256 27512

微机外围电路系列：

Z8OCTC(8O2)

常用单片机系列：

其他系列：

1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506