半导体分立器件高低温参数测试系统 BE-CF200系列

半导体分立器件高低温参数测试系统 BE-CF200系列

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-08-31 10:15:47
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产品简介

将半导体分立器件,如三极管,MOS场效应管,IGBT等置于高低温试验箱内,根据要做的高温、低温、时间设定在仪表参数内,并在对应的温度下测试压力传感器产品的电性能指标。

详细介绍

(1)应用场景:

将半导体分立器件,如三极管,MOS场效应管,IGBT等置于高低温试验箱内,根据要做的高温、低温、时间设定在仪表参数内,并在对应的温度下测试压力传感器产品的电性能指标。

(2)主要特点:




(3)可根据用户使用条件定制需要的规格,有关技术指标请索取产品详细说明。


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