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热电参数测试系统产品特点
热电参数测试系统测试实例
1、康铜样品三次测试数据与美国AIP标准数值对比
2、Namicro-3L、ZEM-3对N型Bi2Te3测试结果对比
3、Namicro-3L、ZEM-3对P型Bi2Te3测试结果对比
4、Namicro-3L、ZEM-3对MgSi测试结果对比（太原理工提供样品）
热电参数测试系统技术参数
| 型号 | Namicro-3LT |
| 温度范围 | RT~800°C |
| 温控方式 | PID程序控制 |
| 升温速率 | 50°C/min |
| 真空度 | ≤50Pa |
| 测试气氛 | 真空 |
| 测量范围 | 泽贝克系数：S ≥ 8µV/K； 电阻率：0.1µΩ•m ~ 106KµΩ•m |
| 分辨率 | 泽贝克系数：0.05µV/K； 电阻率：0.05µΩ•m |
| 相对误差 | 泽贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5% |
| 测量模式 | 自动 |
| 样品尺寸 | 块体，长x宽：(2~5) x (2~5)，单位mm；高度：10 ~ 18mm |
| 主机尺寸 | 1000 x 400 x 500，单位mm |
| 重量 | 75kg |
热电参数测试系统样品要求
块体：具备平整上下端即可
若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面抛光，使材料裸露出来，保证接触良好
热电参数测试系统技术原理
测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差，测量样品两端热电势变化，温差∆T和热电势之间呈线性关系，其斜率即为seebeck系数。
即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。
