MarSurf XR 1.  用户友好型表面度量的理想的低成本入门仪器。
该计算机式仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见的表面参数和轮廓。半导体测量，Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度评估软件的新成就。

·超过 80 种符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
·带通滤波器 Ls 符合当前标准；Ls 也可根据需要关闭或更改。
·全面的测量记录
·快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法
·根据标准选择截止和扫描长度的自动功能（）
·通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态和动态）
·可调维护和校准间隔
·多种测量站配置可使用自定义应用
·多种选项，提高系统灵活性
·各种用户权限级别，避免设备被滥用，避免未人员使用