检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M

深圳市方源仪器有限公司提供检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M，测量铜箔厚度只需1秒钟，专业运用于检测铜箔的厚度。检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M因工厂调校，不需要任何标准片。它使用方便，只需将产品的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。

检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M产品特性：

CE认证；

低电量警告；

耐久性强，使用方便 ；

一秒之内测量铜箔厚度 ；

工厂调校，不需要标准片 ；

现有的能测量全范围铜箔厚度的经济实用的便携式测厚仪 ；

消除高废料和返工造成的浪费——快速**地识别特定铜箔厚度 ；

消除板材的磨损——新的CM95有一个的软探针防止铜表面被擦伤或损毁；

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