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温度冲击试验箱_温度循环冲击试验箱_高低温度冲击箱
温度冲击试验通常用于要求满足标与国际标准的集成电路、印刷线路电路板、芯片、半导体元器件、电子元器件、光电通讯、高分子材料等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温度冲击极限试验,作为提高可靠性,提高产品质量程序的一部分。科文公司生产多种类型的温度循环冲击试验箱以满足不同行业的试验要求。
科文作为温度冲击试验箱厂家,KW-TS规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到最小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;
*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能
*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制;
全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
采用国际流行的制冷控制模式,可以0%~99%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
制冷及电控关键配件均采用国际品牌产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;
*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验
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产品规格型号表:
KW-TS-50F KW-TS-50X KW-TS-50S
KW-TS-80F KW-TS-80X KW-TS-80S
KW-TS-100F KW-TS-100X KW-TS-100S
KW-TS-150F KW-TS-150X KW-TS-150S
KW-TS-250F KW-TS-250X KW-TS-250S
KW-TS-480F KW-TS-480X KW-TS-480S
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