电子元器件高低温循环试验箱是科文KW-GD系列里的一款高低温可靠性试验箱，用于测试各类电子产品，电子元器件在高温，低温，高低温恒温，高低温循环，高低温交变等温度环境下使用或储存时产品的适应性及可靠性能。东莞市科文试验设备主要生产的可靠性测试设备包括：高低温循环试验箱，可程式高低温试验箱，恒温恒湿试验箱，高低温交变湿热试验箱，高温老化试验箱，紫外线老化试验箱，冷热冲击试验箱，快速温度变化试验箱，步入式恒温恒湿试验室，步入式高低温试验室，高温老化房，振动台，跌落机，拉力机等试验设备。
高低温循环试验箱符合标准：
GJB150.3 高温试验
GJB150.4 低温试验
GB11158 高温试验箱技术条件
GB10589 低温试验箱技术条件
GB10592-89 高低温试验箱技术条件
GB/T2423.1-2001 低温试验箱试验方法
GB/T2423.2-2001 高温试验箱试验方法
GB/T2423.22-2001 温度变化试验方法
IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法
IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法
电子元器件高低温循环试验箱广泛用于电子元器件、电子产品、电子、电工、电感、电池、二极管、电器、光电、光伏、光纤、电容器、电阻、电脑、电线、电缆、通讯设备、太阳能组件、通讯、数码产品、PCB、PCB电路板、PCB线路板、FPC、塑胶、橡胶、化工、涂料、油墨、油漆、医药、建材、汽车、胶粘、印刷、陶瓷、五金、航空、航天、、高分子材料、合成材料、LED半导体、LED光电、LED照明、LED灯柱、LED电源、LED模组、LED模块、LED显示屏、LED灯泡、LED日光灯、LED芯片、LED电视、LED显示器、LED数码管、LCD、LCD模组、LCD液晶屏、LCD触摸屏、LCD显示器、汽车、船舶等产品及零部件。
