本款产品专为有高温微流变表征的用户设计，温度上限可达180℃。有研究人员利用传统技术测试高温流变时需要利用时-温叠加的方法间接推算，而本产品允许用户利用基于动态光散射原理的扩散波谱技术直接在不高于180℃的条件下直接测试样品的微流变性能。
仪器相关配置参数如下：
※ 背散射和前散射两种模式，提供完整的DWS解决方案，通过电子快门系统实现两种模式转换；
※ 软件功能强大，用以数据采集和分析，结合单多斑测量，用户可自定义多脚本运行，进行在线微流变分析，可以得到粘弹模量、均方位移、平均光子自由程、蠕变柔量、损耗角正切和平均粒径；
※ 自动测量得到平均光子自由程l*和吸收长度la。
※ 半导体激光光源，685nm，40mW，噪音小于0.5%，单模TEM00，相干长度＞1m，预热时间15分钟，激光路径处于密闭空间，安全等级为1级（根据EN 60825-1/11.01标准）；
※ 两个高检测效率的单光子计数检测器，量子效率＞65% @ 685nm，标准死时间20ns；
※ 双通道快速多tau/线性相关器，最小采样时间12.5ns；
※ 测试温度范围（4℃ - 180℃），在实验室温度不高于23℃时温控精度+/-0.02℃，露点以下测量时需接干燥空气吹扫，RheoLab提供接口；
※ 储存模量G'和损耗模量G"测量范围1Hz-10MHz，弹性范围：1Pa-50kPa；
※ 可测试1mPas以上的低粘度样品；
※ 样品池支架光程范围1-10mm，可使用标准的光学池，使用1mm样品池时样品需求量降至150μL；
※ 仪器无需光学平台，操作保养更加简捷。

产品功能：
DWS RheoLab HT高温型扩散波谱仪采用了背散射和前散射技术，能够在高温条件下分析软物质的微流变以及超浓悬浮液的平均粒径。
包括背散射和前向散射完整的DWS方法，采用双池回波技术（EP 1720000 A1）的，用于非遍历性样品表征；利用回波技术，几分钟内得到储存模量G'和损耗模量G"，频率上限可达10M Hz ；适用于＞1%的样品浓度（和粒径有关），透明样品需加入示踪粒子；可以测量稳定性，老化性以及凝胶点等。

使用背散射技术测量平均粒径，测量范围：50nm-1μm；适用于颗粒浓度20%以下的牛顿流体体系，能获得多分散性样品的平均粒径。

相关耗材：
1mm、2mm、5mm、10mm四种规格的样品瓶；PS示踪粒子；二氧化硅示踪粒子。（需订货）