技术参数

Elrepho

仪器种类

双光束分光光度计

测量集合构造

散射光，0°观测

光源

脉动氙灯，滤色接近D65光源

积分球直径

152mm / 6.0

光谱检测器

*的sp2000分析器，配备双排265个光电二极管陈列和高分辨全息光栅

波长范围/分辨率

360 nm-700 nm /2 nm

报告间隔/有效带宽

10 nm/10 nm

光度范围/分辨率：

0至200 ％ /0.003 ％

校正黑筒

高性能

20条读数重复性

白板0.02 dE CIELAB（zui大）

反射率测定的仪器间的*性2（CIELAB）

内部协议 zui大 dE<=0.4CIELAB （再现性） 平均 dE<=0.2CIELAB

镜头

3个位置自动调焦

测量孔径

XLAV – 34mm受光/30mm测量；SAV - 9 mm受光/5mm测量；USAV – 6.5mm受光/2.5mm测量

自动紫外线控制

对荧光样本自动进行紫外测量和控制校准，紫外滤光395m420mm，460mm。

垂直支架

包括窥视孔样品和基座样品

高度宽度深度

597 mm /312 mm /381 mm

重量

17.24 kg / 38 lb

电源

100 – 240VAC，47 – 63Hz，100VA

操作环境

5℃至40℃，5％至85％非冷凝相对湿度

接口

RS 232 ，19200分之9600波特率