荧光X-reg射线镀层测量仪
元素分析￡镀层测量
产品说明：
SEA5100采用Si（Li） 半导体检测器，使之测量分辨率大大提高，弥补了用比例计数管检测时有些元素难以区分的不足，配备有小型准直器，不仅可以进行元素分析，也可测量镀层厚度，与薄膜FB法配合使用时，可以不使用标准样品，就可以进行元素分析及镀层测量。标准配备有Windows2000中文操作界面，采用捡量线法和FP法，测量数据与Word和Excel链接，自动生成报告和数据处理，2个准直器可自动切换，工作台3维电动，可编程进行自动测量。
产品规格：
可测元素： | Za-u | 定性功能： | KLM标示、ROL设定 |
检测器： | Si（Li）半导体检测器 | 元素分析： | 自动辨别测量 |
准尺器： | 2个（自动设定） | 应用功能： | 用户自动设定 |
滤波器： | 一次滤波器（自动设定） | 自动测量： | 三维电动控制 |
样品观察： | CCD摄像机 | 数据处理： | MX-EXCEL搭载 |
测定软件： | 薄膜FP法、检量线法 | 报告生成： | MS-WORD搭载 |
