PCT高压加速寿命试验机试验一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验，zui主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度（100%R.H.）[饱和水蒸气]及压力环境下测试，测试代测品耐高湿能力，针对印刷线路板（PCB&FPC），用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验..等试验目的，如果待测品是半导体的话，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路..等相关问题。

PCT高压加速寿命试验箱结构：试验箱由一个压力容器组成，压力容器包括一个能产生100%（润湿）环境的水加热器，待测品经过PCT试验机所出现的不同失效可能是大量水气凝结渗透所造成的。

瑞凯公司经*验证与对比，被测产品置于PCT高压加速寿命试验机内的121℃/85%R.H/1kg/cm2压力条件下1小时，相当于置于标准温湿度箱的双85条件下250小时，大大缩短了产品验证失效时间，加快试样的试验过程。

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