当今微电子薄膜，光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用，在工业生产的薄膜，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜，由于电路集成程度的不断提高，薄膜厚度的任何微小变化，对集成电路的性能都会产生直接的影响。除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度有着密切的。那么薄膜材料的厚度是用什么仪器测试？

薄膜材料的厚度测试仪 电脑式薄膜测厚仪CHY-U

    薄膜材料的厚度测试可以用电脑式薄膜测厚仪CHY-U，该仪器主要用于薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带等硬质和软质材料厚度精确测量。是一款超高测试误差的全自动测厚仪，测厚仪被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。该仪器采用微电脑控制、大液晶显示；手动、自动双重测量模式，配备高精度传感器，测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差，保证了测试误差。仪器自动保存zui多100组测试结果，打印zui大值、zui小值、平均值及每次测量结果，方便 用户分析数据。

    薄膜材料的厚度测试用电脑式薄膜测厚仪CHY-U的技术参数：

    测量范围           0-2mm （其他量程可定制

    分辨率             0.1um

    测量速度           10次/min（可调）

    测量压力           17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）

    接触面积           50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种

    进样步矩           0 ～ 1300 mm(可调)

    进样速度           0 ～ 120 mm/s(可调)

    机器尺寸           450mm×340mm×390mm (长宽高)

    重    量             23Kg

    工作温度             15℃-50℃

    相对湿度             zui高80%,无凝露

    试验环境             无震动，无电磁干扰

    工作电源             220V 50Hz

    济南三泉中石实验仪器有限公司生产的电脑式薄膜测厚仪CHY-U是专门用来检测薄膜材料的厚度的仪器，本公司还生产薄膜的拉伸强度、撕裂强度、落镖冲击强度、热合强度等物理性检测仪器，如果您对这些仪器感兴趣请致电三泉中石销售部。