薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准。
采用世界zui先技术，精度高达0.1um，多次测量结果高度*性；操作调试方便，测量结果进行统计、分析、打印输出；
可连接计算机，根据客户的需求选择按数据表统计或柱状图进行统计两种方式，同时还可以试验的数据转换成网页格式，实际在网络或局域网内进行数据的传输。
技术指标：
测量范围：0～2mm（常规）
                   0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
           注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
了解详细信息，敬请致电，本信息由济南兰光提供。