YK-6008-老化寿命试验箱 -东莞市源科检测仪器有限公司手机版

产品简介

老化寿命试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验

详细介绍

老化寿命试验箱的详细介绍

标准：符合军规MTL-SIP-208F、202GB、GJB、MIL、ASTM、CNS、IEC、JIS
材质：不锈钢钣（SUS＃304）
控制精度：±0.5℃
适用于：各种电子连接器、被动元件及各具沾锡之电子产品。
老化寿命试验箱特点：控制功能：P.I.D S.S.R，数位式显示；多翼离心送风方式之水平扩散垂直热交换循环系统；新鲜空气的换气量可任意调整，风部转盘可自由拆装或置上隔层架；附数位瓦特小时及计时器，具有换气测定功能。
1.内外箱采用SUS#304不锈钢板.
2.PID PWM SSR温控系统,双重超温保护,安全可靠, LED显示.
3.T型热电偶感知器与精确的温度可控制解析能力0.1.
4.蒸汽试戏验目标设定控制/蒸汽试验运转计时时间设定控制
5.可扩充预约开机时间控制装置/纯水RO塑渗透自荐动供水装置
箱体说明
1.内部尺寸:W50*D17*H40cm
2.外箱尺寸:W75*D57*H50cm
3.试验槽尺寸:W10*D38*H10cm（三槽式）
安全装置
1.缺水指示灯
2.蒸汽排气孔