基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）

ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。

利用 ZEISS METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精确，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。

仅需通过短时间的 ZEISS METROTOM OS 软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用 ZEISS CALYPSO 可评估 CT 数据，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。