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面议 X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。特别是最近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为迅速的分析。
为满足这种需求,的EDX系列达到了更高的灵敏度与精度。
EDX-720的新功能:
通过配置新型1次滤光片和高计数电路,灵敏度比以往机型提高2倍以上!
配备新型1次滤光片
为提高Cd、Pb等有害重金属的检测灵敏度,采用2 种新型滤光片。通过提高S/N比、降低散射线,得到了比以往机型更高的灵敏度。
计数系统的改进
经过改进,系统能够更高效地检测从样品产生的X射线荧光。以此降低了检测器的饱和,可进行较以往机型更高输出的测定。并有助于提高分析精度。
PVC 树脂样品的测定结果比较