R&S®R-Line紧凑型测试暗室能在产品开发最初阶段消除无线终端产品的辐射问题，优化整体RF性能，从而避免了以后对产品原型的大量修改，节省了成本和时间，加快了产品推向市场的速度，提高了投资回报率 精确测量800 MHz至18 GHz无线终端产品的辐射发射
主要特点
• 早期进行RF性能和辐射发射测量 • 测量准确度与电波暗室同样高，大幅降低设备和基础设施投资 • 外形紧凑，用途广泛 • 自动化测量，交钥匙工程方案，效率更高
通过早期检验辐射发射来缩短产品推向市场的时间 • 测量准确度与电波暗室同样高 • 满足CISPR 16-1-4:2007标准对场地的VSWR (SVSWR)要求 • 频率范围 800 MHz 至 18 GHz
非常适合实验室测量使用 • 外形紧凑，用途广泛 • 作为验证工具使用方便 • 投资成本比电波暗室低很多
针对辐射性能测试,提供全面的自动测试序列，实现资源的有效利用 • R&S®R-Line能够与罗德与施瓦茨的测试系统组成交钥匙工程测量解决方案，实现自动化测量。 • R&S®TS8991空中性能（OTA）测试系统 • R&S®TS8996辐射杂散发射（RSE）测试系统
|
