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rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统 是一套同时具备三维扫描和探测功能的跟踪式三维扫描系统。
rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统 三维扫描系统无须贴点即可在各种环境下扫描物体,快速获得高精度三维模型,真正意义上实现了无损检测。
rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统 是TrackScan-SOLO的进阶版,功能更加强大,在测量范围和精度上都有较大提升,且测量方式可灵活机变,可应对多种三维扫描需求。
rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统的跟踪技术: LED光学跟踪技术,主动寻靶定位,具备更强的抗力和更大的工作量程。 超大的测量范围: 激光扫描时工作距离可达10米,接触式光笔测量距离可达15米,轻松实现大物体三维检测。 | |
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rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统接触式测量兼容: 配合TrackProbe 光笔,可实现接触式三维测量,1μm分辨率保证关键点高精度三维数据获取。 灵活的测量方案: 支持单镜头、多镜头等多种光学跟踪装置方案,根据需求调整工作区域,扫描区域和扫描精度之间平衡 | |
测量范围更广,精度更高 TrackScan-DUO是TrackScan-SOLO的升级版 | |
的跟踪技术 LED光学跟踪技术,无须贴点,主动寻靶定位, 大幅提升三维测量效率 | |
双重模式 | |
精度 | |
超大量程 | |
的定位模式 TrackScan-DUO配置了两台M-Tracker,测量方式更为灵活,可支持单相机、双相机光学跟踪方案,扩展测量范围、提升测量精度 双相机M-Tracker工作时, 共同视野为高精度视野,单个相机的单独视野为扩展视野,用户可根据扫描区域和精度要求调整相机的角度和工作区域 | |
挪威制造 品质 挪威,Metronor倾力打造,由碳纤维航天级轻质强力材料制造, |
型号 | TRACKSCAN-DUO系统 | ||
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设备 | TRACKPROBE 光笔 | TRACKSCAN 扫描仪 | |
测量范围 | 15m | 10m | |
系统精度 | 0.02mm | 0.03mm | |
空间精度* | 2.5m | 0.04mm | 0.04mm |
6m | 0.08mm | 0.08mm | |
10m | 0.12mm | 0.12mm | |
光笔类型 | 无线手持、碳纤维笔身 | 不适用 | |
探针类型 | 可支持快速更换探针、红宝石探头 | 不适用 | |
分辨率 | 1μm | 0.05mm | |
扫描激光类别 | 不适用 | ClassII (人眼安全) | |
扫描速率 | 不适用 | 480000次测量/秒 | |
扫描基准距 | 不适用 | 300mm | |
扫描景深 | 不适用 | 250mm | |
支持文件格式 | igs | stl、stp、igs、ply、xyz、dae、obj、asc | |
环境要求 | 工作温度 | -10℃~45℃ | |
存放温度 | -25℃~65℃ | ||
湿度要求 | <95%,无冷凝 | ||
空间精度检定基于ISO10360-2标准 |