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表面粗糙度仪 | 粗度仪 SE800-C5W (3D)
面议表面粗糙度仪 | 粗度仪 SE800 (3D)
面议真圆度仪 | 圆柱度测定机 EC5200/EC6100
面议粗糙度仪 | 表面粗度测定机 SE700(K31)
面议真圆度仪 | 圆柱度测定机 EC2500H/EC2700H
面议真圆度仪 | 圆柱度测定机 EC1850P/EC3300P
面议真圆度仪 | 圆柱度测定机 EC1850H
面议真圆度|圆柱度测定机 EC1550H
面议粗糙度仪 | 表面粗度测定机 SE500A
面议台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机 ET4000系列
面议圆度仪|真圆度测定仪EC600
面议轮廓仪 | 轮廓形状测定机 EF550A-M50/-M58
面议表面形状粗度测定机DSF900产品参数
Z分解能/测定范围 | 0.0075um/12mm 0.015um/24mm |
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Z检出方式 | 半导体雷射轴标 |
触针/测定力/针尖角度 | R2um/0.75mN/60° R25um/10mN/25° |
解析项目 | 形状解析(要素、方位向量、统计量、MASTER比较、公差判定) 表面粗度(JIS、ISO、DIN、ANSI、BS) 表面波纹(JIS) |
测定范围 | X:100mm |
直线度精度 | 0.4um/100mm |