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表面粗糙度仪 | 粗度仪 SE800-C5W (3D)
面议表面粗糙度仪 | 粗度仪 SE800 (3D)
面议真圆度仪 | 圆柱度测定机 EC5200/EC6100
面议粗糙度仪 | 表面粗度测定机 SE700(K31)
面议真圆度仪 | 圆柱度测定机 EC2500H/EC2700H
面议真圆度仪 | 圆柱度测定机 EC1850P/EC3300P
面议真圆度仪 | 圆柱度测定机 EC1850H
面议真圆度|圆柱度测定机 EC1550H
面议粗糙度仪 | 表面粗度测定机 SE500A
面议台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机 ET4000系列
面议圆度仪|真圆度测定仪EC600
面议轮廓仪 | 轮廓形状测定机 EF550A-M50/-M58
面议表面粗度轮廓形状测定机SEF680K31产品参数
二次元粗度 | |
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测定规格 | JIS(2001/94/82) 、 DIN、 ISO 、 ASME |
测定范围 | Z:1200um X:100mm |
扩大倍率 | Z:50~500,000 X:1~5,000 |
记录 | 自由编辑记录结果并可输出PDF档 |
触针/测定力 | R2um、 0.75mN |
三次元粗度 | |
测定范围 | Z:1200um X:100mm Y:50mm |
取样最小间隔 | X、Y都为1um |
记录 | 彩色记录(鸟瞰图、微分浓淡图等)、粒子解析,三次元粗度参数解析多种 |
触针/测定力 | R2um 0.75mN |
轮廓形状 | |
解析项目 | 要素/方位向量/非球面/滚珠螺杆/MASTER比较 |
测定范围 | Z:60mm X:100mm |
触针/测定力 | R25um 30mN以下 |