性能指标

二次电子像分辨率

1. 高加速：0.8 nm@15.0 kV (GB)
2. 低加速：1.2 nm@1.0 kV (GB)
3. 极低加速：3.0 nm@0.1 kV (GB)
4. 分析：3.0 nm@15 kV, 5 nA, WD 10 mm，
5. WD: 2.0 ～ 25.0 mm (LDF模式时可达41mm) 

主要应用

该电镜及其附件主要用于各种材料的最细微纳米结构的观察，能够在低电压下为高磁性样品成像和分析，GB和GBSH模式可减少非导电样品上的电荷，减少对高分辨成像的镜头像差影响，得到不导电样品的高分辨图像。 

样品要求

1. 样品直径＜32mm，高度＜20mm。
2. 不接受粉末样品。
3. 可接金属块体，薄膜等固体样品。 

仪器说明

JSM-7800F具有浸没式肖特基电子枪；超级混合式物镜 : SHL；用新型探测器过滤电子能量。