凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择Z适合的 X 射线仪器。

特性：

X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务

由于测量距离可以调节（大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试

半导体测量，使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

应用：

镀层厚度测量

大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

电路板上较薄的导电层和/或隔离层

复杂几何形状产品上的镀层

铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

材料分析

电镀槽液分析

电子和半导体行业中的功能性镀层分析