显微熔点仪(数显)HCSGW X-4

显微熔点仪(数显)HCSGW X-4

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具体成交价以合同协议为准
2023-04-17 16:17:52
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产品简介

简要描述:显微熔点仪(数显)

详细介绍

详细说明:

测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

性能指标

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)

光学放大倍数:目镜10X;物境4X


是否已审核:

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经营地址:成都市金牛区洞子口路168号源上金府3栋1单元1703号
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