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库仑镀层测厚仪GALVANOTEST | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
德国EPK(Elektrophysik)公司库仑镀层测厚仪GalvanoTest ,应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀,但电化学反应的方向相反,是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。 测量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属,而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠,仪器使用简便。测量操作由仪器的指令自主完成,操作者不需要专业知识。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
库仑法又是*能够测量复合镀层、多层镀层的方法。例如测量在铁上依次镀上的铜、镊、铬等。
• 可测实际应用的所有镀层
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