A型灵敏度标准试片

简 介：

A型灵敏度试片由日本无损检测学会提出，以后为多个国家使用，主要用于零部件的磁粉探伤，在检查中，对几何形状复杂，不同材质的工作，可以正确地选择磁化规范，并可检查探伤设备，磁粉和磁悬液的性能，在磁粉探伤操作过程中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作所需的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量A型灵敏度试片是磁粉探伤工作者必要的调试工具。

特 点：

试片用于磁粉显示，图象直观，使用简便。对各类零件所有方向的磁场，尤其检查形状复杂的零件时，表现其的优点。

性能规格：

A型标准试片分为A1、A2；A1为退火材料制成，A2为不作热处理的冷轧材料制成。本试片按JB4730-2005标准特别注明A1试片，与日本JISG0565-6标准和美国ASME SE709标准相对应。本试片为A1 (15/50μ)标准试片。相当于A1型试片中2# (30/100μ)标准灵敏度试片，规格为(8-9)D；适用于中灵敏度探伤，其中括号中分子为槽深，分母为试片厚度，单位为(微米)，D为工件直径。

本套试片包括：

1# 15/100μ（7/50μ）

2# 30/100μ（15/50μ）

3# 60/100μ（30/50μ）

使用方法：

1、标准试片适宜于连续磁化法，使用时应选适当灵敏度的试片，将刻有槽的一面朝向工件，用胶带纸紧密地贴上，保证试片与被检面接触良好，胶带纸贴于试片两边缘，不能覆盖试片背面的刻槽部位。

2、进行外加悬场法，对工件进行磁化，并在试片上浇以磁悬液或喷磁粉(磁化规范由低档逐提高，以显示磁痕为界，即是磁化电流)。上述步骤完毕后，贴在工件表面上的试片，即可清楚显示磁痕。