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面议Hommel-Etamic W20 无导头型探测系统专为执行移动式粗糙度测量而设计。它不仅测量所有常见的粗糙度参数,而且评估工件表面的波度和总轮廓。该测量仪特别紧凑,便于携带。内置电池,因此即使在没有外部电源时也能使用。
测量探头会自动定位在工件表面上。机动化的探头降低功能可简化操作 - 您只需定位扫描单元,然后开始测量。在完成测量时,探臂会自动从工件抬起。这可以防止探针被损坏。
宽大的彩色触摸屏非常清晰,且易于操作。借助集成的打印机,您可以立即以图形形式显示测量结果。可以显示参数、轮廓图形、Abbott 曲线和统计数据。该测量仪提供了七个测量程序,以及使用集成的粗糙度标准来测试测量仪的选项。
特点
● 操作简单、舒适
● 8测量程序
● 带 4 种基本功能的功能任务栏
● 评估所有常见粗糙度特性参数
● 公差评估的可能性广
● 通过触摸屏快速和舒适得输入数据
● 结果显示:特性参数、轮廓线、交互式材料支撑率曲线、 广泛的统计功能
● 精准且灵活
● 内置启动键的进给设备 wavelineTM 20
● 对小型工件进行仰测,测量稳定性佳
● 可测量所有位置(还可仰测)
● 配置了高精密导轨,可对直线度和波纹度进行精密测量
● 针对所有 HOMMEL-ETAMIC 基准面探头
● 快速安全
● 通过自校准功能节省时间
● 探头电动下降 -自动定位探测头 -在测量结束前自动降低
● 带数据页的内置粗糙度标准 RNDH 3
应用
● 生产环境中的测量
● 轴和辊子测量
● 测量在平坦的表面
测量技术 | 量程 | ±300µm (±600µm) |
探针 | 基准面探针 TKL300 – 2 µm/90° | |
大探测长度 | 20 mm | |
切断 | 0.08 / 0.25 / 0.8 / 2.5 mm | |
探测速度 vt | 0,15 / 0,5 / 1 mm/s | |
特征参数 | 68,用于评估粗糙度、截面和波纹度 | |
单一测量长度数量 | 可在 1 至 5 中选择 | |
探测长度符合 ISO/JIS | 1.5/4.8/15mm | |
探测长度符合 MOTIF | 0,64 / 3,2 / 16 mm | |
内置打印工具 | 打印过程 | 静态热打印 |
纸张/打印宽度 | 57 ±0,5 mm / 48 mm | |
纸辊 | Ø = 31 mm | |
尺寸(长 x 宽 x 高)/重量 | 基本设备 W20 | 224x226x70mm,980g |
进给设备 LV17 | 151 x 50 x 55 mm,275 g | |
其它 | 数据存储器 | 2000 测量数据集,500 截面数据集 |