THEMOS-Mini显微镜
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上海尤谱光电科技有限公司
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THEMOS mini 热发射显微镜是一种功能齐全,小型化的热发射图像分析系统,配有InSbHS摄像头。
THEMOS mini 可检测半导体器件内部产生的热量,并将其显示为叠加在图案上的图像,以便快速定位缺陷。
当与具有长工作距离的红外物镜一起使用时,可快速、平滑地探测样品晶片。
THEMOS mini是热发射分析的非常合适的入门型号,可广泛用于半导体材料和PC板宏观观察以及半导体器件的微观观察。
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