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   常州PCT试验箱,PCT老化试验箱http://www.pctsyx.com/PCTlaohuaxiang/,PCT加速老化试验箱又名PCT试验箱，是用于测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，多层线路板、光伏组件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

PCT试验箱,PCT老化试验箱,PCT加速老化试验箱http://www.pctsyx.com/PCTlaohuaxiang/170.html技术参数

PCT老化试验箱,PCT加速老化试验箱型号L:PCT-250\PCT-350\PCT-450\PCT-550\PCT-250M\PCT-350 M
控制器:微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器
分辨率:温度：0.1压力：指针式0.1
控制稳定度:温度：±0.5℃，湿度：100%
内箱材质:SUS316#不锈钢
外箱材质:高级钢板烤漆或不锈钢（依客户选择）
尺寸（cm）
PCT老化试验箱,PCT加速老化试验箱内箱:Φ25×D35  Φ30×D45  Φ40×D55  Φ50×D60  Φ25×D35  Φ30×D45
PCT老化试验箱,PCT加速老化试验箱外箱:W56×H65×D105   W66×H105×D125  W76×H115×D135 W860×H135×D145 W56×H65×D105   W66×H105×D125
 温度范围:110℃～132℃   110℃～147℃
 湿度范围:100%RH饱和蒸气
压力范围:表压力+0.2～2.0kg/cm2  表压力+0.2～3.5kg/cm2
加压时间:大约45分钟   大约55分钟
PCT老化试验箱,PCT加速老化试验箱循环方式:水蒸气自然对流循环

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