ZK2010 特性阻抗测试仪
产品简介
详细信息
TDR阻抗测试仪的详细描述：
用途：特性阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。
特点：
1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。
2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。
3、提供单端和差分阻抗测试。
4、支持2通道、4通道及8通道测试。
5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。
6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。
7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。
8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。
9、打印测试报表、波形及测试结果。
10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。