PC-304R8 电子自动门锁高加速寿命试验箱
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高加速寿命试验箱
高加速寿命试验箱
以电脑为代表的各类电子零件和设备支持着电子和精密设备向着小型化和集约化发展。因此,此类电子零件和设备的可靠性的改进越发显得重要。同时减少对可靠性评估的时间也变得同样重要。
HIRAYAMA的高加速寿命测试设备,源于内压力容器技术,已被成功开发以满足时代的需要。现在已是用于加速评估电子零件和设备的不可替代的仪器。
HIRAYAMA的双箱体系统精度高
测试箱体和蒸汽发生器相互合作,独立动作,与单箱体系统蒸汽在测试箱体内生成不同。测试箱体(干)与蒸汽发生器(湿)阀温度的相互干就达到了*低。
此外,设置在测试箱体内温度控制器的精度。则由内部加热系统很好地保证着。因此,双箱体可与单箱体系统赡美的大跨度的湿度调节范围。能为测试提惯一个适当和稳定的环境。
商且偏压测试可精确实施。高效可靠的测试非常重要,圆为它能保证和传统THB测试的紧密联系和互动。