ZEISS DotScan光学式扫描探头
产品简介
详细信息
用于采集自由曲面的光学式探头(测量)
特点:
1.ZEISS DotScan是测量自由曲面和细微结构的;
2.ZEISS DotScan采用色阶共聚焦白光探头,特别适用于测量敏感、柔软、具反射性或低对比度的表面,因为对于这类表面,
探针或相机传感器已超过其能力所及,使用 ZEISS DotScan时,具高反射性的表面如膝关节植入物的金属部件无须注入造影
剂,即可进行扫描,因此,使用此探头也能区分透明上漆表层和其下方的金属层;
用途多样灵活:
1.ZEISS DotScan共有三种探头尺寸,适用于三种不同的测量范围:10、3和1mm;
2.探头可在一次CNC运行期间全自动更换,以适用于不同的表面,或改换其他光学探头;
3.关节轴每次可移动2.5度,可将ZEISS DotScan调整到垂直于待测量部件;
4.由于ZEISS DotScan 1mm的测量角度是+/-30度,因此更大曲率的部件也能测量,再加上探针的操作模式,使得各种材料都能
毫无问题地从各种角度进行测量;
5.配合使用转台,甚至连4轴的测量工作也难不倒ZEISS DotScan;
可兼容的三坐标测量机:
ZEISS ACCURA ZEISS O-INSPECT 蔡司PRISMO