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仪器仪表光学仪器电子显微镜

SH-3500MB 桌上型扫描电子显微镜

供应商:
陕西环动联科电子科技有限公司
企业类型:
其他

产品简介

Hirox桌上型扫描电镜系列TabletopSEM具有强大的性能和友好易用的操作性

详细信息

Hirox桌上型扫描电镜系列 Tabletop SEM具有强大的性能和友好易用的操作性。该系列具有紧凑的设计,自动对焦、自动亮度和对比度调节等功能,提供给用户高清晰、高倍率的扫描电镜影像。 此外根据实际应用需求,可以选配加载EDX系统、即能谱仪或许多其他周边设备。 即避免了复杂的系统维护和测试时间,同时又节省了制做样品的高昂成本,因此也更具性价比。SH系列 Tabletop SEM的数字化的图像采集和储存或传输使之无论在企业、科研或教学等应用领域具有更高的效率。



超越光学极限的高倍率

■ 倍率达30,000X
■ BSE(背散射)探测器

■ 加速电压5kV~30kV范围可调

■ 多种真空模式-标准/荷电减轻

■ 等待时间少于2分钟

■ 3轴控制载物台-X方向、Y方向和Z方向

■ 选配-EDX系统 冷冻载台


非导电性样品无须涂层、快速简便

■ 任何人都能使用的自动调整功能
■ 交替样品后两分钟即可获得满意的影像
■ 体积小巧,灵活快捷
■ 利化的GUI界面


影像鲜明的扫描电镜

■ 高分辨率可达5百万像素
■ 极大的景深层次丰富
■ 多种格式储存
■ 多种测定功能:长度、角度等



桌上型扫描电子显微镜 SH-4000M

超越光学极限的高倍率

■ 倍率达60,000X
■ SE(二次电子)和BSE(背散射)-多探测器

■ 加速电压5kV~30kV范围可调

■ 多种真空模式-标准/荷电减轻

■ 等待时间少于2分钟

■ 3轴控制载物台-X方向、Y方向和Z方向


非导电性样品无须涂层、快速简便

■ 任何人都能使用的自动调整功能
■ 交替样品后两分钟即可获得满意的影像
■ 体积小巧,灵活快捷
■ 利化的GUI界面


影像鲜明的扫描电镜

■ 高分辨率可达5百万像素
■ 极大的景深层次丰富
■ 多种格式储存
■ 多种测定功能:长度、角度等



桌上型扫描电子显微镜 SH-5000M

超越光学极限的高倍率

■ 倍率达100,000X
■ SE(二次电子)探测器(可选BSE探测器)

■ 加速电压5kV~30kV范围可调

■ 多种真空模式-标准/荷电减轻

■ 等待时间少于2分钟

■ 5轴控制载物台-X、Y、R、Z、T

■ 4孔可变光阑-30/50/100/200 um

■ 选配-EDX系统 冷冻载台 低真空控制系统


非导电性样品无须涂层、快速简便

■ 任何人都能使用的自动调整功能
■ 交替样品后两分钟即可获得满意的影像
■ 体积小巧,灵活快捷
■ 利化的GUI界面


影像鲜明的扫描电镜

■ 高分辨率可达5百万像素
■ 极大的景深层次丰富
■ 多种格式储存
■ 多种测定功能:长度、角度等




选配件

离子溅射仪:


  • 操作快捷简便
  • 装载样品尺寸:
    50mm
  • 靶材:Au金
  • 外形/重量:
    180Wx310Dx310H/15kg


冷冻载台


  • 与SEM预留的EDS接口兼容
  • 对有水分样品进行水分蒸发
  • 通过控制盘进行温度设置
  • 设置温度及温度变化实时显示
  • 样品高度可调
  • 可进行远程传输和遥控



EDS系统: BRUKER EDS QUANTAX 100


  • SDD硅漂移艺术-无需液氮制冷
  • 谱线分辨率优于133eV(MnKa)
  • 检测范围可以从硼B(5)到镅Am(95)
  • 多点分析/先扫描/元素分布图


BSE探测器


  • 四通道固定型
  • 合成物或形貌分析
  • 优异的原子序数分辨率0.1Z(Z=30时)
  • 可选探测器应对普通低电压UVH




应用领域:

◇生命科学
  Life Science
◇印制电路及表面贴装
  PCB/SMT
◇能源产业
  Energy
◇纺织
  Textiles
◇食品工业
  Food
◇半导体
  Semiconductor
◇刑事科学
  Forensic
◇生物学
  Biology
◇化妆品
  Cosmetics
◇材料科学
Materials Science
◇科研
  Military
◇环境科学
  Enviroment
◇地质勘探
  Geo. Prospect
◇五金矿产
  Mining Industry
◇石油化工
  Petro & Chemical
◇文博考古
  Archaeology
◇健康用品
  Healthcare
◇汽车工业
  Automotive
◇金相分析
  Metallographic
◇失效分析
Failure Analysis