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FS-70 半导体检测用显微镜单元 带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。 应用：切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复 (校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC) 的型号(产品) 可用。 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。