日立X射线荧光光谱仪 X-Strata 920
产品简介
详细信息
X射线荧光分析的优点：
●最少或无需样品制备
●无损分析
●可测元素范围广：Ti22 to U92
●可分析固体和溶液
●分析快速：几秒内得到结果
●定性、半定量和全定量分析
●操作容易，只需要简单培训 详细参数 请咨询客服！ 利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备， 提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
X-Strata920 – 性价比高，无损可靠
一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。
新型号设计
快速分析（几秒）1-4层镀层厚度
多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型
开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等
符合ISO3487和ASTM B568检测方法
X-Strata920 - 三种配置满足您的需要：
固定样品台
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
经济、实用
平面样品台设计，适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析
加深样品台
高度每英寸(25.4mm)可调，架构式样品舱可容纳高度6.3"(160mm)的样品
可以选4个样品盘中任一个来盛放不同高度的样品
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
程控样品台
用于自动化测量
方便根据测试位置放置样品，并精准定位测量点
开槽式样品舱允许检测大型平板样品，如印制线路板
样品台尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (宽)