XTU-50A(0.5)X荧光测厚仪
产品简介
详细信息
性能优势：
下照式设计：快速方便的定位各种形状的样品，满足一切测试所需。
无损变焦检测：拥有手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。
微聚焦射线装置：可测试各微小的部件，最小检测面积可达0.002mm²。
高效率的接收器：在检测0.01mm²以下的样品时，几秒钟也可达到稳定性。
精密微型滑轨：精密的手动移动平台，快速精准定位所需检测的样品。
EFP算法软件：可检测单镀层，多镀层，多元合金，甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析，包括轻金属镀层，非金属镀层，达克罗，Nip镀层测试，包括Ni与P的比例也均可检测。
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片电动切换，满足各种测试方式的应用。
新一代高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率。
防护装置：恒压恒流快门式光闸，拥有高压电源紧急自锁功能，带给您更安全的防护。
技术参数：
测量元素范围：CI(17)-U(92)
涂镀层分析范围：CI(17)-U(92)
分析软件：EFP，可同时分析5层镀层，10种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析
测试程式添加：1862条测试程式免费提供，也可编辑新程式
软件操作：人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误
X射线装置：升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦射线管
接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm²
射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器
视频观测光路系统：垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头
测样读取开启方式：恒压恒流快门式光闸
滤光片：铝、空、镍
准直器：ø0.5mm
最近测距光斑扩散度：10%
最小测量面积：约0.04mm²
测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异形样品，变焦距离0-30mm
样品观察：1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960，变焦功能
对焦方式：高敏感镜头（无需增加其他辅助传感器），手动对焦
放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍
样品台尺寸：500mm*360mm
样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）
外部尺寸：540mm*430mm*475mm
移动方式：高精密XY手动滑轨
可移动范围：40mm*50mm
电源：交流220V 50HZ
功耗：120W（不包括计算机）
冷却系统：对流通道过滤式风冷
保养升级模块：软硬件模块化
环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%
重量：约45KG
随机标准片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu
其他附件：电脑一套、喷墨打印机、附件箱
