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气相色谱- 飞行时间质谱仪

供应商:
上海瑞第电子科技有限公司
企业类型:
其他

产品简介

第4代AccuTOFGC系列产品性能进一步改进,升级为AccuTOFGCx!将在很多的领域为您提供分析解决方案

详细信息

  第4代AccuTOF GC 系列产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx!

  将在很多的领域为您提供分析解决方案。

  通过精确质量测试推测元素的组成,AccuTOF GCx 能长时间且比较稳定地进行高灵敏度, 高分辨率, 高质量准确度的测试。此外, AccuTOF GCX 作为GC-HR TOFMS具有高数量级的动态范围, 在同一谱图内不管是测试基峰还是小峰, 质量准确度都较高, 因此能较容易推测分子离子和碎片离子的元素组成, 基于宽动态范围还能容易地对不同浓度的混合样品进行GC/MS 测试。

  高分辨率

  全氟

  高质量准确度(不同浓度下的同一个离子峰)

  八氟萘

  长时间的稳定性

  八氟萘

  高灵敏度

  连续测试八次100fg 八氟萘(OFN) 后, 由EIC中的积分面积标准偏差计算出仪器的检出限(IDL)为16fg。

  CV :相对标准偏差  IDL :仪器检出限

  宽质量范围用Direct TOFMS也能测试低聚物

  AccuTOF GCx 不但具有宽质量范围, 还有多种直接进样系统, 可以测试GC无法进样测试的大分子量样品。

  聚苯乙烯5200 的FD 质谱图

  多种电离方法和进样技术FI 法和FD 法 适合于确认分子量的软电离方式

  FI / FD 法与EI 法或CI 法相比, 是分子离子内部能量较小的电离方法, 由于这种软电离方式不容易引起碎片化, 因此适合于确认分子量。

  FI(Field Ionization :场电离)法

  通过GC 或标准样品进样口能将样品导入离子源。

  CI 源需要依据待测对象化合物选择试剂气体种类, 但FI 源不需要。

  软电离技术也可以适用于难挥发性样品,对容易碎片化的含氟化合物也检测出了分子离子。

  FD(Field Desorption :场解吸)法

  将样品直接涂在发射体上。

  很适合分析热不稳定化合物。

  很适合于可溶于非极性溶剂的样品

  能测试可以分散在溶剂中的粉末样品

  能测试低~中极性的金属络合物。

  能分析一般GC/MS 无法测试的样品, 如聚合物, 高分子材料等。

  对难挥发性的离子液体也能迅速获得分子量信息。

  EI/FI/FD 复合离子源(选配件)同一个离子源可以使用EI 法(硬电离方式)和I/FD 法(软电离方式)。

  可简单, 迅速地切换EI 和 FI/FD电离方式。

  直接进样方式(选配件)

  根据用途备有两种直接进样杆

  电离方法可以选择EI 和CI。

  DEP (Direct Exposure Probe)

  适合高沸点化合物 / 热不稳定化合物, 将溶在溶剂中的样品涂在灯丝前端。

  DIP (Direct Insertion Probe)

  直接进样杆适合于高沸点化合物及不溶于溶剂的样品。

  固体样品可以直接放入专门用的玻璃样品管

  EI 和FI 结合的定性分析对EI的质谱图可用谱库检索,根据碎片离子的成份推断可获得结构信息。另一方面根据FI检测出的分子离子能推断出分子量和元素成份。通过综合来自EI和FI的信息,就可以进行定性分析而不必单纯地依赖谱库检索,这种组合技术对于杂质等未知成分的定性分析有效。

  FI 法和FD 法 适合于确认分子量的软电离方式

  FI / FD 法与EI 法或CI 法相比, 是分子离子内部能量较小的电离方法, 由于这种软电离方式不容易引起碎片化, 因此适合于确认分子量。

  FI(Field Ionization :场电离)法

  通过GC 或标准样品进样口能将样品导入离子源。

  CI 源需要依据待测对象化合物选择试剂气体种类, 但FI 源不需要。

  软电离技术也可以适用于难挥发性样品,对容易碎片化的含氟化合物也检测出了分子离子。

  FD(Field Desorption :场解吸)法

  将样品直接涂在发射体上。

  适合分析热不稳定化合物。

  适合于可溶于非极性溶剂的样品

  能测试可以分散在溶剂中的粉末样品

  能测试低~中极性的金属络合物。

  能分析一般GC/MS 无法测试的样品, 如聚合物, 高分子材料等。