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的高性能SEM

Apreo扫描电子显微镜（SEM）革命性的复合透镜设计结合了静电和磁力浸没技术，可产生的分辨率和信号选择。这使得Apreo SEM成为研究纳米颗粒，催化剂，粉末和纳米器件的平台，同时不会影响磁性样品的性能。

Apreo SEM得益于的镜头内反向散射检测，即使在倾斜，短工作距离或敏感样品上也能提供出色的材料对比度。新型复合透镜通过能量过滤进一步改善了对比度，并为绝缘样品的成像增加了电荷过滤。可选的低真空模式现在具有500 Pa的腔室压力，即使是的绝缘体也能成像。

凭借所有这些选项，包括复合最终镜头，*的检测和灵活的样品处理，Apreo SEM的性能和多功能性将在未来许多年内满足您的研究挑战。

新型Apreo扫描电子显微镜（SEM）可为各种材料（包括纳米颗粒，金属，复合材料和涂层）提供高性能，并结合创新功能，以获得更好的分辨率，对比度和易用性。

•的复合最终镜头在1 kV时可提供1.0 nm的出色分辨率，无需任何样品的光束减速，即使它是倾斜的或地形的。

•用的反向散射检测 - 材料对比度始终可用，即使在低电压和电子束电流，任何倾斜角度，光束敏感样品和电视速率成像时也是如此。

•的探测器灵活性 - 通过组合各个探测器段的信息，获得最重要的对比度或信号强度。