XAU-X荧光光谱分析仪、镀层测厚仪、膜厚仪
产品简介
详细信息
XAU | |
RoHS分析 | 有害元素检测，RoHS（As、Pb、Hg、Cd、Cr、Br）、卤素 |
涂镀层检测 | 选配 |
EFP算法 | 标配 |
软件操作 | 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 |
探测器 | Si-Pin半导体探测器 |
X射线装置 | 微聚焦射线管 |
准直器 | Φ5mm |
微光聚焦技术 | 最近测距光斑扩散度 10% |
滤光片 | 集成嵌入式多滤光片切换装置 |
样品观测 | 1/2.7”彩色CCD，变焦功能 |
对焦方式 | 高敏感镜头，手动对焦 |
放大倍数 | 光学38-46X，数字放大40-200倍 |
仪器尺寸 | 470mm*550mm*480mm |
样品腔高度 | 215mm |
样品台移动 | 无 |
仪器重量 | 45KG |
其他附件 | 电脑一套、打印机、附件箱、RoHS标准片 |
X射线标准 | DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568 |
一、产品优势：
XAU是一款针对RoHS、卤素检测分析而开发出来的高集成光谱分析仪；
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用；
1. 装配Si-PIN半导体探测器，大大提高了检测范围及精度；
2. 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作；
3. RoHS、卤素有害元素检测，检出限可达2ppm；
4. 配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度小于10%；
5. 采用高清晰摄像定位系统，样品观察清晰，定位准确；
6. 核心配件高集成模块化设计,结构紧凑,避免相互电磁干扰,提高了仪器的检出限,降低了仪器的故障率；
7. 下照式设计，测样快捷；
8. 一键RoHS检测，自动识别材料类别并自动匹配程式，实现一键分析。