CIA-500 自动清洁度检测系统
产品简介
详细信息
1、界面一目了然、操作简单。
2、三点定圆确定滤纸大小
软件采用三点定圆的算法,确定滤纸的直径和扫描范围。
3、全自动扫描,图像拼接、手动聚焦
快速、高效、精准的滤膜图像自动扫描和拼接(如果用体式显微镜方案,速度大约2分钟)。可定点
移动到视场或颗粒位置进行观察,可用鼠标滚轮调节焦距。
(平台控制界面)
(拼接后的图像)
4、自动搜出金属、非金属颗粒以及纤维
(1)明场/暗场分析模式:
对明场图像进行金属颗粒分析,对暗场图像(分析时,需加装偏光装置)进行非金属颗粒分析,最后进行颗粒数据统计,分析精确度高。
l 先载入明场模式下的图像进行金属颗粒分析。
(明场下标记可能是金属的颗粒)
l 再载入暗场模式下的图像进行非金属颗粒分析
(暗场下标记可能是非金属的颗粒)
l 最后进行颗粒数据统计:软件自动整合明场和暗场下的分析结果进行颗粒数据统计
(金属与非金属颗粒分析结果)
(2)明场分析模式:
只对明场图像进行金属非金属分析,最后进行颗粒数据统计,分析精确度相对来说较低,但分析速度快。
l 载入明场图像,进行金属颗粒分析
l 再在该图像下,进行非金属颗粒分析
l 最后进行颗粒数据统计:软件自动整合明场下的金属颗粒和非金属分析结果进行颗粒数据统计
(金属与非金属颗粒分析结果)
注:只有进行颗粒统计分析后,才能精确分析出该颗粒是否是金属或者非金属颗粒。
5、支持ISO16232、IS04406/4407、GBT14039、GB/T20082-2006及自定义标准
(GBT14039)
(ISO4406/4407)
(ISO 16232)
(GB/T 20082-2006)
(自定义标准)
6、输出图文检测报告
系统配置清单
NO | 项目 | 技术参数 |
1-1 | 正置金相显微镜(2选1) | 型号:CIA-500 镜头:2倍,5倍,10倍(物镜数量3个) 偏光装置:可选 |
1-2 | 体式显微镜 (2选1) | 型号:CIA-100 连续变倍体式显微镜; 放大倍数范围0.7-4.5,通过旋钮进行变倍调节; 偏光装置:可选 |
2 | 电动载物台 | 平台行程: 70*70(单位mm) 螺杆导程:2000μm 重复定位精度:±5μm以内 16细分下的分辨率:单步0.625μm 步进电机步距角:1.8° 额定工作电流:单轴1.0A(24V电源供电) 负载:≥5kg 往返间隙:5微米 |
3 | 驱动控制箱 | 长*宽*高:307*260*105(单位:毫米) 触摸屏:实时显示数据以及触控操作 采用通用232串口与PC机进行通信(115200波特率) 串口控制,能设置电机的移动速度,移动距离,移动方向 |
4 | 摄像头 | 300万或500万数字摄像头 |
5 | 软件 | 清洁度图像分析软件 |
6 | 电脑(选配) | 推荐配置:WIN7操作系统,4核CPU,4G内存。 |
1、实物图像
l 正置金相显微镜方案:
l 体式显微镜方案:
l 平台特写:
l 控制器:
l 滤膜: